Danilo Pani
UniCa Ateneo Docenti e ricercatori Danilo Pani Ricerca Prodotti della Ricerca (IRIS)

Danilo Pani

Electronic components authentication via physical analysis

Mura G.
Primo
;Carta S.;Ricci P. C.;Martines G.
2023-01-01

Abstract

Counterfeit electronics is a reliability problem. Undetected counterfeits can lead to increased scrap rates, early field failures, and rework rates, causing a dramatic reduction in the reliability of systems. Identifying counterfeit devices can be challenging because not everything that seems suspect is necessarily fake. On the other hand, counterfeiters keep growing and adapting.
2023
Inglese
2023 IEEE 33rd International Conference on Microelectronics, MIEL 2023
979-8-3503-4776-0
IEEE (EDS)
4
2-s2.0-85181200655
2023 IEEE 33rd International Conference on Microelectronics, MIEL 2023
Esperti anonimi
16- 18 October 2023
Nis, Serbia
internazionale
scientifica
Crime; % reductions; Electronic component; Field failure; Physical analysis; Reliability problems; Scrap rate
Goal 12: Responsible consumption and production
no
4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Mura, G.; Carta, S.; Ricci, P. C.; Martines, G.
273
4
4.1 Contributo in Atti di convegno
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